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如何觀察水培葉菜燒邊的罪魁禍首，用高光強培養(yǎng)箱試試看！
點擊次數(shù)：2210 更新時間：2020-03-11
隨著中國設施蔬菜產(chǎn)業(yè)發(fā)展，水培蔬菜種植面積逐年增加。燒邊是水培葉菜類蔬菜生產(chǎn)中常見的生理性病害，常發(fā)生于蒸騰作用偏弱的心葉，幼嫩葉片的邊緣首先出現(xiàn)褐色小斑點或者水浸狀斑點，隨后葉片邊緣變黃、變褐，嚴重時甚至腐爛，心葉停止生長(圖1)。燒邊通常被認為與大白菜干燒心、番茄臍腐病類似，是由葉片缺鈣引起的一種生理性病害，然而有研究表明，燒邊受多種環(huán)境條件交互影響，因此準確認識燒邊病害發(fā)生的環(huán)境條件及機理，對蔬菜燒邊的防控十分必要。
目前普遍認為，缺鈣是引起水培蔬菜迅速膨大的葉片或正在發(fā)育的組織燒邊發(fā)生的主要原因。鈣是植物體內(nèi)重要的礦質(zhì)元素之一，是細胞壁的重要組成成分，對植物細胞或組織的結構穩(wěn)定性具有重要作用。此外，鈣還在植物體內(nèi)信號轉導、種子萌發(fā)、光合作用、生理代謝和酶活性調(diào)控以及細胞膨大等生理過程中扮演重要的角色。鈣通過蒸騰作用中蒸騰流的驅(qū)動在植物體內(nèi)由根系向葉片運輸，然而，鈣也是植物體內(nèi)難以移動的礦質(zhì)元素之一，幾乎不能從成熟的葉片轉運到新長出的幼嫩葉片中。水培蔬菜中幼嫩葉片中的鈣含量普遍低于成熟葉片。因此，迅速膨大的幼嫩葉片更容易因缺鈣而發(fā)生燒邊癥狀。Saure等早在1998年就提出燒邊是一種脅迫相關的癥狀，認為外部環(huán)境因素變化會引起植物脅迫或增加植物對脅迫的敏感性，當環(huán)境脅迫超過植株自身的耐受能力，燒邊就很容易發(fā)生。因此，燒邊是由于植物體內(nèi)鈣元素的吸收、運輸、需求失衡所引起的一種生理性病害，而且受不同的栽培季節(jié)和環(huán)境影響，任何能引起植物體缺鈣的環(huán)境條件或原因均可能導致葉片燒邊的發(fā)生。
田間評價法
田間評價法是指將待評價的蔬菜品種進行常規(guī)田間種植，待收獲時調(diào)查燒邊發(fā)生情況，計算燒邊發(fā)生率和燒邊指數(shù)。此方法操作簡單，但耗時費力，工作量大。此外，調(diào)查的結果受到種植季節(jié)和氣候等環(huán)境條件的影響，結果可重復性差。
苗期評價法
苗期鑒定是指通過營養(yǎng)液栽培的手段，在幼苗時期評價燒邊抗性的方法。該方法在人工控制的環(huán)境中，使用NaNO3替代營養(yǎng)液配方中的Ca(NO3)2，很容易控制營養(yǎng)液中的鈣離子濃度，促進幼苗期植株發(fā)生燒邊，相較于田間評價法，具有可靠性強，省時省力等優(yōu)點。
離體葉片評價法
該方法是由Yoshikawa在1998年創(chuàng)立的，用于檢測評價大白菜對缺鈣的抗性，鑒定結果具有很強的可重復性。具體方法為：將離體葉片插入含有300mLEDTA溶液和10mg/kg赤霉素的塑料盒子中，培養(yǎng)3h后，用另一只塑料盒子覆蓋保濕，轉移到高光強培養(yǎng)箱中，30℃黑暗條件下繼續(xù)培養(yǎng)48h。培養(yǎng)結束后調(diào)查葉片燒邊(葉緣小黑點或腐爛)發(fā)生情況。EDTA用來固定葉片中的鈣，而赤霉素以及高溫高濕的環(huán)境條件用于促進葉片細胞的迅速膨大，誘導葉片缺鈣。由于該方法使用離體葉片進行處理，因此可以用于大規(guī)模篩選大白菜抗燒邊材料。
